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X射線(xian)檢測是(shi)利用X射線(xian)可以穿透(tou)物質(zhi)和在物質(zhi)中(zhong)具有衰減的特性，發現工件缺陷的一種無損檢測方法。

Ｘ射線(xian)檢(jian)測技(ji)術(shu)從zui初的(de)(de)膠片射線(xian)照相技(ji)術(shu)，經(jing)過近100年的(de)(de)發展，已形成了由Ｘ射線(xian)照相、Ｘ射線(xian)實時(shi)成像、Ｘ射線(xian)層析成像等構(gou)成的(de)(de)比(bi)較完整的(de)(de)Ｘ射線(xian)檢(jian)測技(ji)術(shu)體(ti)系(xi)。

根據工件檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測圖像獲得方(fang)法的(de)不同，X射(she)(she)(she)(she)線(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測技(ji)術(shu)(shu)分(fen)為Ｘ射(she)(she)(she)(she)線(xian)照相檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測技(ji)術(shu)(shu)和數字射(she)(she)(she)(she)線(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測技(ji)術(shu)(shu)。Ｘ射(she)(she)(she)(she)線(xian)照相檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測技(ji)術(shu)(shu)發(fa)(fa)展歷(li)史久，技(ji)術(shu)(shu)成(cheng)熟(shu)、應用廣泛(fan)，為其他射(she)(she)(she)(she)線(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測技(ji)術(shu)(shu)的(de)發(fa)(fa)展奠定了堅實的(de)基礎(chu)。數字射(she)(she)(she)(she)線(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測技(ji)術(shu)(shu)主(zhu)要包括Ｘ射(she)(she)(she)(she)線(xian)實時成(cheng)像技(ji)術(shu)(shu)、Ｘ射(she)(she)(she)(she)線(xian)斷(duan)層ＣＴ成(cheng)像檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測技(ji)術(shu)(shu)、Ｘ射(she)(she)(she)(she)線(xian)顯微ＣＴ成(cheng)像檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測技(ji)術(shu)(shu)、Ｘ射(she)(she)(she)(she)線(xian)錐束ＣＴ三(san)維成(cheng)像檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測技(ji)術(shu)(shu)和康(kang)普(pu)頓背散(san)射(she)(she)(she)(she)技(ji)術(shu)(shu)（ＣＢＳ）等。

Ｘ射線照相(xiang)檢測技(ji)(ji)術是(shi)zui傳(chuan)統的(de)無損(sun)檢測技(ji)(ji)術之一，在工業(ye)領域中得到了廣泛(fan)的(de)應用，其主要優點是(shi)對(dui)工件(jian)中的(de)夾雜、孔隙等體積型缺陷(xian)及密度(du)分布不均等均有很好的(de)檢出效果(guo)，且(qie)檢測結(jie)果(guo)直觀(guan)，具(ju)有較高的(de)靈敏度(du)。但其對(dui)分層缺陷(xian)的(de)檢測相(xiang)對(dui)比(bi)較困難(nan)，且(qie)處理步(bu)驟(zou)繁瑣(suo)、過程復(fu)雜，不僅(jin)成(cheng)本較高，而且(qie)有污染物質產生。

東莞源興光(guang)學X-RAY檢(jian)查(cha)機用于PCB壓合和鉆孔(kong)工序檢(jian)查(cha)內層孔(kong)位(wei)對(dui)位(wei)精度觀(guan)測及測量。可以對(dui)圖像進行(xing)各種測量：圓(yuan)(yuan)心位(wei)置，點與點距離(li)，圓(yuan)(yuan)形(xing)面積(ji)等，并可根據設定參數進行(xing)判(pan)定。

特點：

1）可視導航定位，實時觀測。

2) 密封(feng)式微(wei)聚焦(jiao)X射(she)線管和高質量(liang)成像系統，確(que)保(bao)快速測(ce)量(liang)時無拖影(ying)。

3）密封式微(wei)聚焦(jiao)X射線管(guan)、半封閉鉛防(fang)護結(jie)構(gou)、雙層鉛橡皮(pi)防(fang)護簾三層防(fang)護技術確保使用人員安(an)全 。

4）軟件采(cai)用獨有知(zhi)識產(chan)權的多種圖像處理和測量技術。

Ｘ射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)實時成(cheng)像(xiang)(xiang)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)技(ji)術(shu)是數(shu)字射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)技(ji)術(shu)的(de)一種(zhong)，它采用探測(ce)(ce)(ce)器代替傳統的(de)Ｘ射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)膠片，不僅成(cheng)像(xiang)(xiang)速(su)度更(geng)快(kuai)，成(cheng)像(xiang)(xiang)質量更(geng)高(gao)(gao)，而且不需要洗片、顯影(ying)、定影(ying)等操(cao)作過程，減少(shao)了(le)化(hua)學藥品的(de)消耗，從而價格成(cheng)本更(geng)低、更(geng)加經濟環保。Ｘ射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)實時成(cheng)像(xiang)(xiang)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)技(ji)術(shu)具有很高(gao)(gao)的(de)分辨力和較高(gao)(gao)的(de)動態(tai)范(fan)圍，可檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)密度差(cha)或厚度差(cha)很大的(de)工(gong)件，同時還可以實時地進行在線(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)。但是，Ｘ射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)實時成(cheng)像(xiang)(xiang)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)技(ji)術(shu)與傳統的(de)Ｘ射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)照相檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)技(ji)術(shu)一樣，所得到的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)為(wei)二維(wei)投影(ying)圖(tu)(tu)，存在信(xin)息疊(die)加的(de)問題。

Ｘ射(she)(she)線ＣＴ成像(xiang)(xiang)檢測(ce)技(ji)術得(de)到的(de)檢測(ce)圖像(xiang)(xiang)是與工件(jian)材料、結構、組成成分(fen)及密(mi)度等特性相對應的(de)二(er)維斷(duan)層(ceng)圖像(xiang)(xiang)，同(tong)時還(huan)可(ke)(ke)(ke)進行三維重建來獲得(de)被(bei)檢測(ce)工件(jian)的(de)三維立體(ti)圖，不存在信息疊(die)加的(de)問題(ti)。其檢測(ce)圖像(xiang)(xiang)是數(shu)字化的(de)結果，從中可(ke)(ke)(ke)直接得(de)到CT值、像(xiang)(xiang)素尺寸等信息，且(qie)數(shu)字化圖像(xiang)(xiang)便于(yu)儲(chu)存、傳輸、分(fen)析及處理等。它具有高(gao)的(de)空間和(he)密(mi)度分(fen)辨能力，高(gao)的(de)動(dong)態范圍(wei)和(he)可(ke)(ke)(ke)靠性。隨著高(gao)能量工業CT系統的(de)研(yan)制(zhi)，在足夠的(de)穿透(tou)能量下，受檢工件(jian)的(de)幾何結構可(ke)(ke)(ke)不受限制(zhi)。Ｘ射(she)(she)線ＣＴ成像(xiang)(xiang)檢測(ce)技(ji)術適用于(yu)對多種缺(que)陷的(de)檢測(ce)。

Ｘ射線顯(xian)微ＣＴ成像檢(jian)測(ce)技術是一種利(li)用X射線成像原理進行高分辨(bian)率三維(wei)成像的(de)新型檢(jian)測(ce)技術，可(ke)以用于對(dui)孔隙度及孔徑的(de)測(ce)量。

隨著科(ke)學技(ji)術(shu)的不斷發展，Ｘ射線檢(jian)(jian)測技(ji)術(shu)不僅具(ju)有靈敏度(du)高(gao)、分辨率高(gao)、動態范圍大、圖像(xiang)質量(liang)好等系列有點，同(tong)時適用(yong)(yong)于大多數(shu)缺陷、材料密度(du)不均(jun)、材料結構特性等方面的檢(jian)(jian)測并廣泛(fan)(fan)應用(yong)(yong)于逆(ni)向(xiang)工(gong)程(cheng)中，是(shi)目前(qian)工(gong)業領域應用(yong)(yong)zui廣泛(fan)(fan)的無損(sun)檢(jian)(jian)測方法。