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| YK-XK25臺式線寬檢測儀 |
儀器用途
適用于檢測PCB內、外層蝕刻后線路的上幅及下幅寬度、線間距離、孔到邊線距離，以及圓孔、盲孔、弧的直徑等，并適用于IC晶片、薄膜和LCD等線寬線距的測量。
儀器特點(dian)
1.快速軟(ruan)體測量功能(neng)：框選(xuan)被測線寬區域后自(zi)動確定線邊界(jie)，輸出(chu)線寬值，判斷NG/OK，并同時輸出(chu)被測項目數(shu)據報(bao)表。同時具備SPC統計分析功能(neng)。
規格(ge)參數
項目
主要技術參數
型號
YX-XK25
測量精度
3x以上精度±1mm，2x精度±2mm，1x精度±3mm
放大倍率
光學放大倍率1.4x~9x連續可調，影像放大倍率70x~450x
可測板寬
≤760mm
可測線寬
20mm~120mm
分辨率
0.4μm~2.7μm/pixel
視野范圍
0.53mm x 0.4mm~ 3.3mm x 2.5mm
外形尺寸
960mmx760mmx1260mm
重量
150KG
主營離子污(wu)染(ran)測(ce)試儀,自動影(ying)像測(ce)量儀,尺(chi)寸(cun)快速(su)測(ce)量儀,2.5次元測(ce)量儀
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