計量器(qi)具的測量方法從不同的出發點，可以(yi)分(fen)(fen)為以(yi)下幾(ji)種，下面由源興(xing)光學小(xiao)編來逐個進行分(fen)(fen)析：

１、直(zhi)接(jie)(jie)測(ce)量(liang)和間接(jie)(jie)測(ce)量(liang)：直(zhi)接(jie)(jie)測(ce)量(liang)可以從(cong)計量(liang)器具獲(huo)得被(bei)測(ce)量(liang)的直(zhi)接(jie)(jie)數值，而間接(jie)(jie)測(ce)量(liang)需(xu)要通過(guo)函數關系(xi)算出被(bei)測(ce)量(liang)。為了減(jian)少(shao)誤差(cha)，一般采用(yong)直(zhi)接(jie)(jie)測(ce)量(liang)，只有必要時才使用(yong)間接(jie)(jie)測(ce)量(liang)。

２、絕(jue)對測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)和(he)間接(jie)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)：絕(jue)對測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)指被測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)全(quan)值(zhi)從計(ji)量(liang)(liang)(liang)(liang)器具的(de)(de)(de)(de)讀數裝置直接(jie)讀出的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)，而相(xiang)(xiang)對測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)是指計(ji)量(liang)(liang)(liang)(liang)器具的(de)(de)(de)(de)示值(zhi)表示被測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)與已(yi)知標(biao)準量(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)偏(pian)差的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)，而被測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)為(wei)計(ji)量(liang)(liang)(liang)(liang)器具的(de)(de)(de)(de)示值(zhi)與標(biao)準量(liang)(liang)(liang)(liang)之(zhi)和(he)。一般(ban)來說，相(xiang)(xiang)對測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)精(jing)度(du)比絕(jue)對測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)高。

３、單(dan)項測(ce)(ce)量(liang)(liang)和綜(zong)合(he)測(ce)(ce)量(liang)(liang)：單(dan)項測(ce)(ce)量(liang)(liang)是(shi)(shi)對被測(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)工件(jian)中的(de)(de)(de)(de)(de)(de)參數分(fen)別進(jin)行(xing)測(ce)(ce)量(liang)(liang)，而綜(zong)合(he)測(ce)(ce)量(liang)(liang)對相關幾何量(liang)(liang)進(jin)行(xing)綜(zong)合(he)評估并判(pan)(pan)定(ding)。如通過不同(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)(liang)器(qi)具采集到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)數據點與產品的(de)(de)(de)(de)(de)(de)模型，使用(yong)源興的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)(liang)儀，輪廓(kuo)分(fen)析(xi)軟件(jian)進(jin)行(xing)比對以(yi)后的(de)(de)(de)(de)(de)(de)偏差(cha)作為(wei)一種圖形(xing)化(hua)偏差(cha)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)判(pan)(pan)定(ding)，排除(chu)了單(dan)一尺寸(cun)判(pan)(pan)斷(duan)帶來的(de)(de)(de)(de)(de)(de)不全(quan)面現象，更直(zhi)接和全(quan)面。單(dan)項測(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)效率比綜(zong)合(he)測(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)低，但單(dan)項測(ce)(ce)量(liang)(liang)結果便于進(jin)行(xing)工藝(yi)分(fen)析(xi)，特別是(shi)(shi)在使用(yong)不同(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)基準判(pan)(pan)定(ding)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)前提下進(jin)行(xing)尺寸(cun)合(he)格(ge)性的(de)(de)(de)(de)(de)(de)分(fen)析(xi)判(pan)(pan)定(ding)。

４、接(jie)觸(chu)(chu)測量(liang)和非接(jie)觸(chu)(chu)測量(liang)：顯而易見(jian)，非接(jie)觸(chu)(chu)式測量(liang)無需(xu)進(jin)行(xing)碰觸(chu)(chu)產(chan)品表面，三維(wei)測量(liang)的精度可以得到(dao)保證，而且效率更高(gao)，不會對產(chan)品因為(wei)碰觸(chu)(chu)而產(chan)生形變和刮傷。在(zai)工(gong)業高(gao)品質質量(liang)控制領域(yu)，非接(jie)觸(chu)(chu)式測量(liang)占(zhan)比在(zai)逐漸加(jia)大。源興的三維(wei)影像測量(liang)還可以增加(jia)多元傳(chuan)感器，進(jin)一步拓展(zhan)了測量(liang)而為(wei)綜合評價(jia)的利(li)器。

５、在(zai)線(xian)測量(liang)(liang)和離線(xian)測量(liang)(liang)：：在(zai)線(xian)測量(liang)(liang)時(shi)測量(liang)(liang)機器在(zai)生(sheng)產現場(chang)和生(sheng)產工(gong)藝過程(cheng)中得到(dao)實施(shi)，并用測量(liang)(liang)結果來控制工(gong)件的(de)(de)加工(gong)和調(diao)整，并及時(shi)發現廢品(pin)的(de)(de)產生(sheng)，但是因為是在(zai)生(sheng)產現場(chang)，測量(liang)(liang)精度不可(ke)能很高。離線(xian)測量(liang)(liang)是在(zai)實驗室(shi)中，對生(sheng)產加工(gong)后(hou)的(de)(de)工(gong)件進行抽(chou)檢或全檢，精度可(ke)以(yi)得到(dao)充(chong)分(fen)的(de)(de)保證，并且可(ke)以(yi)進行質量(liang)(liang)溯源。

６、等(deng)精度(du)和不(bu)等(deng)精度(du)測(ce)量(liang)：等(deng)精度(du)測(ce)量(liang)是指決(jue)定測(ce)量(liang)精度(du)的全(quan)部(bu)因素和條件(jian)(jian)都不(bu)變得測(ce)量(liang)，不(bu)等(deng)精度(du)則不(bu)能保證(zheng)測(ce)量(liang)條件(jian)(jian)完全(quan)一樣下的測(ce)量(liang)，一般盡量(liang)采用(yong)等(deng)精度(du)測(ce)量(liang)，減(jian)少(shao)人為(wei)誤差或不(bu)定因素對測(ce)量(liang)不(bu)確(que)定度(du)造(zao)成(cheng)的影(ying)響(xiang)。