許多ROHS儀(yi)(yi)(yi)器用(yong)戶(hu)大(da)概都(dou)不(bu)太清(qing)楚這(zhe)款儀(yi)(yi)(yi)器是基(ji)于怎(zen)樣(yang)的(de)(de)(de)(de)應用(yong)原理來完成作(zuo)業的(de)(de)(de)(de)，這(zhe)就是今(jin)天(tian)我(wo)們要在(zai)(zai)這(zhe)里(li)為大(da)家介紹的(de)(de)(de)(de)XRF-X射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)熒(ying)光(guang)(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜儀(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)(de)優缺點。X射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)熒(ying)光(guang)(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜儀(yi)(yi)(yi)（XRF）由激(ji)(ji)發(fa)源(yuan)（X射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)管）和探(tan)測(ce)系(xi)統(tong)(tong)構成。X射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)管產生入射(she)(she)X射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)（一(yi)(yi)次(ci)(ci)X射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)），激(ji)(ji)發(fa)被(bei)測(ce)樣(yang)品(pin)。受激(ji)(ji)發(fa)的(de)(de)(de)(de)樣(yang)品(pin)中的(de)(de)(de)(de)每(mei)一(yi)(yi)種(zhong)元(yuan)素(su)會放射(she)(she)出二次(ci)(ci)X射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)，并且(qie)不(bu)同的(de)(de)(de)(de)元(yuan)素(su)所(suo)放射(she)(she)出的(de)(de)(de)(de)二次(ci)(ci)X射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)具有(you)特(te)(te)定的(de)(de)(de)(de)能量特(te)(te)性或波長特(te)(te)性。探(tan)測(ce)系(xi)統(tong)(tong)測(ce)量這(zhe)些(xie)放射(she)(she)出來的(de)(de)(de)(de)二次(ci)(ci)X射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)能量及數量。然后，儀(yi)(yi)(yi)器軟件(jian)將(jiang)探(tan)測(ce)系(xi)統(tong)(tong)所(suo)收集到的(de)(de)(de)(de)信息轉換(huan)成樣(yang)品(pin)中各種(zhong)元(yuan)素(su)的(de)(de)(de)(de)種(zhong)類(lei)及含量，在(zai)(zai)有(you)關X射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)熒(ying)光(guang)(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜儀(yi)(yi)(yi)技術原理我(wo)們有(you)更多的(de)(de)(de)(de)關于X射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)熒(ying)光(guang)(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜儀(yi)(yi)(yi)是如何完成ROHS管控元(yuan)素(su)的(de)(de)(de)(de)分析工作(zuo)的(de)(de)(de)(de)相關介紹。

下面讓我(wo)們(men)來了解一下XRF-X射線熒光光譜(pu)儀(yi)的優缺點(dian)都(dou)有那些？

XRF-X射(she)線熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀的優(you)點主(zhu)要有六(liu)個組(zu)成(cheng)部分，他們分別是：

1.分(fen)析速度(du)高。測定用(yong)時與測定精密度(du)有關(guan)，但一般都很(hen)短，60～200分(fen)鐘(zhong)就可以測完樣品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待測元素。

2.X射線熒光(guang)光(guang)譜跟樣品的化學結合狀態無(wu)關(guan)，而且跟固體(ti)、粉末、液體(ti)及晶質、非晶質等(deng)物質的狀態也(ye)基本上沒有關(guan)系。（氣體(ti)密封在容器內也(ye)可(ke)分(fen)(fen)析）但(dan)是在高分(fen)(fen)辨率的精密測定中卻可(ke)看到有波(bo)(bo)長(chang)變(bian)化等(deng)現象。特別是在超軟X射線范圍(wei)內，這(zhe)種(zhong)效(xiao)應更(geng)為(wei)顯著。波(bo)(bo)長(chang)變(bian)化用于化學位的測定。

3.非破壞分析在測定中不會引起化(hua)學狀態的改變，也不會出(chu)現(xian)試樣(yang)飛散(san)現(xian)象。同一(yi)試樣(yang)可反復(fu)多次測量，結果重(zhong)現(xian)性好。

4.X射線(xian)熒(ying)光分析(xi)是(shi)一種(zhong)物理(li)分析(xi)方法，所以對(dui)在化學(xue)性質上屬(shu)同一族的(de)元(yuan)素(su)也能進行(xing)分析(xi)。

5.分(fen)析精(jing)密度(du)高。

6.制樣簡單(dan)，固(gu)體(ti)(ti)、粉末、液(ye)體(ti)(ti)樣品等都(dou)可以進(jin)行(xing)分析。

而XRF-X射線熒光光譜儀的缺點卻只(zhi)有三項(xiang)，他們分別是：

1.難于作(zuo)jue對(dui)分析，故定量分析需要標樣。

2.對輕(qing)元素的靈敏(min)度要低(di)一些。

3.容易受相(xiang)互元(yuan)素干擾和疊加峰影響。