X射线检(jian)测是利(li)用X射线可以穿(chuan)透物质和在物质中具有(you)衰减的特(te)性，发现工件缺陷的一(yi)种无损检(jian)测方法。

Ｘ射(she)(she)线(xian)检(jian)(jian)测技术从zui初的胶片射(she)(she)线(xian)照相(xiang)技术，经(jing)过(guo)近100年的发展(zhan)，已形成了由Ｘ射(she)(she)线(xian)照相(xiang)、Ｘ射(she)(she)线(xian)实时成像、Ｘ射(she)(she)线(xian)层析成像等(deng)构成的比(bi)较完整的Ｘ射(she)(she)线(xian)检(jian)(jian)测技术体(ti)系。

根据工件检(jian)测(ce)(ce)(ce)图像(xiang)获得方法的不同，X射(she)(she)(she)线(xian)检(jian)测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)术(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)分(fen)为(wei)Ｘ射(she)(she)(she)线(xian)照相检(jian)测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)术(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)和数字(zi)射(she)(she)(she)线(xian)检(jian)测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)术(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)。Ｘ射(she)(she)(she)线(xian)照相检(jian)测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)术(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)发(fa)展历(li)史久，技(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)术(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)成(cheng)熟(shu)、应用广泛，为(wei)其他射(she)(she)(she)线(xian)检(jian)测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)术(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)的发(fa)展奠定(ding)了坚实的基础。数字(zi)射(she)(she)(she)线(xian)检(jian)测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)术(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)主要包括Ｘ射(she)(she)(she)线(xian)实时(shi)成(cheng)像(xiang)技(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)术(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)、Ｘ射(she)(she)(she)线(xian)断(duan)层ＣＴ成(cheng)像(xiang)检(jian)测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)术(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)、Ｘ射(she)(she)(she)线(xian)显微ＣＴ成(cheng)像(xiang)检(jian)测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)术(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)、Ｘ射(she)(she)(she)线(xian)锥束ＣＴ三维成(cheng)像(xiang)检(jian)测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)术(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)和康普顿背(bei)散(san)射(she)(she)(she)技(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)术(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)（ＣＢＳ）等。

Ｘ射线照相检(jian)测(ce)技(ji)术是(shi)zui传统(tong)的(de)无(wu)损检(jian)测(ce)技(ji)术之一(yi)，在工业领(ling)域中(zhong)得到(dao)了广(guang)泛的(de)应用，其主(zhu)要(yao)优点是(shi)对工件中(zhong)的(de)夹杂(za)、孔隙等体积型缺陷及密度(du)分(fen)布(bu)不均(jun)等均(jun)有(you)很好的(de)检(jian)出效果，且检(jian)测(ce)结果直(zhi)观，具(ju)有(you)较高的(de)灵敏(min)度(du)。但其对分(fen)层缺陷的(de)检(jian)测(ce)相对比较困难(nan)，且处理步骤(zhou)繁琐(suo)、过程复杂(za)，不仅成本较高，而(er)且有(you)污(wu)染物(wu)质产生。

东(dong)莞源(yuan)兴光学X-RAY检查(cha)机用于PCB压合和钻孔工序检查(cha)内(nei)层孔位对(dui)位精(jing)度观测(ce)及(ji)测(ce)量(liang)。可以对(dui)图像进行各种测(ce)量(liang)：圆心位置(zhi)，点与点距(ju)离，圆形面(mian)积等，并可根据设定参(can)数进行判定。

特点(dian)：

1）可视导航定位，实时观测。

2) 密封式(shi)微聚焦X射线管(guan)和高质(zhi)量(liang)(liang)成像(xiang)系统，确保快速(su)测(ce)量(liang)(liang)时无(wu)拖影。

3）密封式(shi)微聚焦X射线管、半封闭铅防(fang)护结构、双层铅橡皮(pi)防(fang)护帘三(san)层防(fang)护技术(shu)确保使(shi)用(yong)人员安全 。

4）软(ruan)件采(cai)用独有知(zhi)识产(chan)权的多(duo)种(zhong)图像(xiang)处理和测量技术。

Ｘ射(she)(she)线(xian)(xian)实(shi)(shi)时(shi)(shi)成像检测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)术(shu)(shu)是数(shu)字射(she)(she)线(xian)(xian)检测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)术(shu)(shu)的一种(zhong)，它采(cai)用探测(ce)(ce)(ce)器代(dai)替(ti)传(chuan)(chuan)统的Ｘ射(she)(she)线(xian)(xian)胶片，不仅成像速度更快，成像质量更高(gao)，而且不需要洗片、显影、定影等操(cao)作(zuo)过程，减少了化(hua)学药品的消(xiao)耗，从(cong)而价(jia)格成本更低、更加经(jing)济(ji)环保。Ｘ射(she)(she)线(xian)(xian)实(shi)(shi)时(shi)(shi)成像检测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)术(shu)(shu)具有(you)很高(gao)的分(fen)辨力(li)和较高(gao)的动(dong)态范围，可检测(ce)(ce)(ce)密度差(cha)或厚度差(cha)很大的工件，同时(shi)(shi)还可以(yi)实(shi)(shi)时(shi)(shi)地进行在线(xian)(xian)检测(ce)(ce)(ce)。但是，Ｘ射(she)(she)线(xian)(xian)实(shi)(shi)时(shi)(shi)成像检测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)术(shu)(shu)与传(chuan)(chuan)统的Ｘ射(she)(she)线(xian)(xian)照相检测(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)术(shu)(shu)一样(yang)，所得到(dao)的检测(ce)(ce)(ce)图像为(wei)二维投影图，存(cun)在信息叠加的问(wen)题。

Ｘ射线ＣＴ成(cheng)像(xiang)(xiang)检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)技术得(de)到(dao)的(de)(de)检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)图(tu)像(xiang)(xiang)是与工(gong)件(jian)材料、结构、组成(cheng)成(cheng)分及密度等特性(xing)(xing)相对应(ying)的(de)(de)二维(wei)断(duan)层(ceng)图(tu)像(xiang)(xiang)，同时还可(ke)(ke)进行三维(wei)重建来获得(de)被检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)工(gong)件(jian)的(de)(de)三维(wei)立体图(tu)，不存在(zai)信息叠加的(de)(de)问题(ti)。其检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)图(tu)像(xiang)(xiang)是数字(zi)化的(de)(de)结果(guo)，从(cong)中可(ke)(ke)直接得(de)到(dao)CT值、像(xiang)(xiang)素尺(chi)寸等信息，且数字(zi)化图(tu)像(xiang)(xiang)便(bian)于储存、传输、分析及处(chu)理等。它具有高(gao)的(de)(de)空间和(he)密度分辨能力(li)，高(gao)的(de)(de)动态范围和(he)可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)(xing)。随着高(gao)能量工(gong)业CT系统的(de)(de)研制(zhi)，在(zai)足够的(de)(de)穿透能量下，受检(jian)(jian)(jian)工(gong)件(jian)的(de)(de)几何结构可(ke)(ke)不受限制(zhi)。Ｘ射线ＣＴ成(cheng)像(xiang)(xiang)检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)技术适用于对多种缺陷的(de)(de)检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)。

Ｘ射线显微(wei)ＣＴ成(cheng)像检(jian)测技(ji)(ji)术是一种利用X射线成(cheng)像原理(li)进行高分(fen)辨率(lv)三维成(cheng)像的新型检(jian)测技(ji)(ji)术，可以用于对孔(kong)隙度及孔(kong)径(jing)的测量(liang)。

随着科(ke)学(xue)技术(shu)的不断(duan)发(fa)展，Ｘ射线检(jian)测(ce)技术(shu)不仅具有灵敏度高(gao)、分辨(bian)率高(gao)、动态范围大、图像质量(liang)好等(deng)系列有点，同时适用于大多数(shu)缺(que)陷、材料(liao)密(mi)度不均、材料(liao)结构特性等(deng)方面的检(jian)测(ce)并广泛应用于逆向工(gong)程中，是目前工(gong)业领域应用zui广泛的无损(sun)检(jian)测(ce)方法。